在面包烘焙行業,對于面包品質的把控至關重要,而面包的體積是衡量其品質的關鍵指標之一。日本 k - axis 激光體積計 AR - 01 作為一款先進的測量設備,在面包烘焙行業有著多方面的運用。
傳統測量方法的局限:在激光體積計出現之前,面包體積測量常采用種子置換法等。這些傳統方法操作繁瑣,對于可壓縮、粘性或有褶皺的面包產品并不適用,且測量過程易出錯,缺乏標準化流程。例如,在使用種子置換法時,種子填充的緊密程度不同,會導致測量結果出現較大偏差。
激光體積計的優勢:日本 k - axis 激光體積計 AR - 01 利用激光技術,能夠快速、精準地測量面包體積。它通過發射激光束掃描面包表面,獲取面包的三維輪廓數據,進而精確計算出面包體積。這種測量方式不受面包形狀、質地等因素影響,無論是圓形、長方形還是其他特殊形狀的面包,都能準確測量。比如在面包生產線上,AR - 01 可以快速對經過烘焙的面包進行體積測量,為生產過程提供及時的數據支持。
批次間質量穩定:面包制造商為保證產品質量的一致性,需對每批面粉進行烘焙測試。在測試階段,面包體積是重要的參考指標。如果面包體積不足,可能意味著面粉質量不佳(如面粉過弱或過濃),或者面團中酶活性不平衡。日本 k - axis 激光體積計 AR - 01 能夠實時監測面包體積,幫助制造商及時發現生產過程中的問題。例如,當某一批次面包體積出現異常波動時,可據此調整面團配方,如改變面粉、酵母或其他添加劑的用量,確保后續批次面包質量穩定。
優化面團配方:在研發新面包產品或改良現有產品時,面團配方的優化至關重要。通過使用 AR - 01 測量不同配方制作出的面包體積,結合面包的其他品質指標(如質地、口感等),可以確定最佳的面團配方。例如,在研究米糠面包時,添加不同量的木聚糖酶會對面包體積和烘焙品質產生影響。借助 AR - 01 測量面包體積,可清晰了解木聚糖酶添加量與面包體積之間的關系,從而找到使面包體積和綜合最佳的木聚糖酶添加量。
烘焙程度與面包收縮:面包烘焙過程中,面包面團會經歷膨脹,在烘焙后期會有輕微收縮。烘焙程度不同,面包收縮程度也不同,而這直接影響面包最終體積。研究表明,較長時間的烘焙會使面包收縮程度降低。例如,烘焙至 75℃且停留 0 分鐘的面包,體積變化可達 25%;而烘焙至 98℃并停留 10 分鐘的面包,體積變化僅為 2.5%。
激光體積計輔助評估:日本 k - axis 激光體積計 AR - 01 可在面包烘焙后的冷卻、冷藏和冷凍階段,持續監測面包體積變化。通過分析體積變化數據,結合烘焙參數(如溫度、時間),可以準確評估面包的烘焙程度是否合適。例如,在面包烘焙完成后,立即使用 AR - 01 測量其體積,并在冷藏和冷凍過程中持續跟蹤。若發現面包在冷藏或冷凍階段體積收縮異常,可推測烘焙程度可能存在問題,為后續調整烘焙工藝提供依據。
開發新型面包產品:在開發新型面包產品,如功能性面包(富含膳食纖維的面包)時,需要考慮各種原料添加對面包體積和品質的影響。以發酵麥麩面包為例,發酵麥麩的添加會改變面包的膳食纖維組成和烘焙特性,包括面包體積。利用 AR - 01 測量不同發酵麥麩添加量的面包體積,有助于確定最佳添加比例,開發出既具有良好營養價值又有優質體積和口感的面包產品。
改善烘焙工藝:除了原料配方,烘焙工藝(如烘焙設備、加熱方式等)對面包體積和品質也有重要影響。例如,與傳統烤箱和微波爐加熱相比,感受器輔助微波烘焙對面包的溫度變化、質量損耗、比容(與體積相關)等特性產生不同影響。在研究這些不同烘焙工藝時,AR - 01 可用于精確測量面包體積,為優化烘焙工藝提供數據支持,幫助開發出更高效、更能提升面包品質的烘焙方法。
包裝設計參考:面包體積是包裝設計的重要依據。準確測量面包體積,有助于選擇合適尺寸的包裝材料,避免包裝過大造成資源浪費,或包裝過小對面包造成擠壓變形。日本 k - axis 激光體積計 AR - 01 提供的精確體積數據,可幫助面包制造商設計出更貼合面包尺寸的包裝,提升產品外觀形象。
儲存過程監測:在面包儲存過程中,面包的體積變化可能反映其品質變化。例如,面包在儲存過程中可能因水分流失、微生物生長等原因導致體積縮小或變形。使用 AR - 01 定期測量儲存中的面包體積,可及時發現面包品質變化趨勢,為調整儲存條件(如溫度、濕度、氣體環境等)提供參考,延長面包保質期。
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